| Jak zmierzyć tłumienie kabla/tłumika za pomocą nanoVNA H4 |
| Przepraszam że z takim opóźnieniem. Dziękuję za obszerny opis tego eksperymentu, wydaje się to być jasne. Myślę, że tworzenie plików snp innych niż 50 omów nie ma sensu, ponieważ analizator nie jest w stanie stworzyć takiego pliku, a efekt można uzyskać ten sam inną drogą. (chociaż w NanoVNA jest opcja zmiany referencyjnej impedancji (Display/Port-Z) i może wtedy tworzą się snp z inną impedancją, oraz może od ręki otrzymamy pomiary skorygowane, temat do sprawdzenia na kiedyś) Chciałem odpisać dopiero po odtworzeniu praktycznym tego eksperymentu z takim filtrem na fizycznych elementach, ale nie mam kiedy tego zrobić, w domu zupełny brak czasu, trochę sprzętów w pierwszej kolejności czeka na naprawę, a eksperymenty muszą poczekać. Przyszedł mi do głowy prostszy eksperyment, który powinien udowodnić to samo: Pomiar s21 fidera 75 omów w sposób zwykły, tj podłączonego bezpośrednio do analizatora 50 omowego, wczytanie wyników s2p w SimSmith (W SimNEC już kilka razy się natknąłem na bugi których nie ma w SimSmith, dlatego SimNEC nie używam) i zmiana w SimSmith impedancji źródła i obciążenia na 75 i ciekawe czy transformacja tego fidera zniknie. Na sucho to wychodzi: Utworzyłem w SimSmith źródło 50 obciążenie 50 fider 75 o długości 2 metrów, sweep od 1 do 100 MHz i zapisałem 50 omowy s2p, po czym wyczyściłem projekt, wrzuciłem blok S i wczytałem do tego bloku poprzednio zapisany s2p oczywiście jako plik 50 omowy. Zgodnie z przewidywaniami, po zmianie impedancji źródła i obciążenia na 75 omów, wykres się wypłaszczył, transformacja ćwierćfalowa zniknęła, a więc na symulacji to działa. W SimSmith było to łatwiejsze do wykonania niż przypuszczałem, a w praktyce zrobię to jak znajdę czas i kawałek fidera 75 i napiszę co wyszło. sq9mda pisze: Tu niestety nie zrozumiałem co masz na myśli  "DUT koncentryczny" to przecież nasz tłumik, a Series-Through to pomiar pomiędzy kablami.Chodziło mi o podłączenie w układ pomiarowy Series-Through DUT, który jest koncentryczny. O tak:  W obu tych przypadkach mam obawy, że popłynie prąd przez DUT oraz jednocześnie popłynie zakłócający prąd po obudowie DUT (common mode?), odbije się od końca jego obudowy i doda do prądu płynącego przez DUT, przez co zmierzymy sumę tych prądów a nie sam prąd DUT. Przy wysokich impedancjach DUT (gdzie pomiar Series-Through ma najwięcej sensu) prąd po obudowie może znacznie przewyższać prąd DUT powodując wielokrotnie większy niż błąd niż pomiar w sposób klasyczny. Oprócz tego część energii może zostać wypromieniowana. Jednak dalej piszesz, o common mode w pomiarze Shunt-Through. sq9mda pisze: ale prawdziwym problemem związanym z pętlą masy jest pomiar S21 Shunt-Through. Mam gdzieś trochę na ten temat to spróbuję poszukać. Tak czy siak na stronie której link wkleiłem powyżej, masz zdjęcie przedstawiające pomiar S21 Shunt-Through wraz z transformatorem (dławikiem) który likwiduje prąd w trybie wspólnym. The common-mode transformer is needed to remove the resistance of the cable shield from the measurement. Because this is a shunt measurement, the return is through the system ground and it’s important to deal with the parasitic ground resistance to get a good measurement of a low impedance. Nie zrozumiałem co się tutaj dzieje. Dodając dławik common mode zwiększamy impedancję tej pętli, tak jakby ją rozpinając, i dzięki temu mamy uzyskać mniejszą rezystancję pasożytniczą oplotu fidera? hmm... Odnośnie adapterów to widziałem gdzieś jak ktoś robił to wprost na złączach SMA krawędziowych, bez PCB, w powietrzu. I tak też na wtyku krawędziowym SMA mierzę S11 małe indukcyjności (pojedyncze nH) czy pojemności (pojedyncze pF) po skompensowaniu długości gniazda o 100ps. (lub po skalibrowaniu, ale zestaw mam domowej roboty, więc trudno mi powiedzieć w którym przypadku jest mniejszy błąd). Tu jest okazja aby wrócić do zrobienia poprawnego zestawu kalibracyjnego. Twój wykres z http://sp7pki.iq24.pl/podglad_posta.asp?id_komentarza=8115688 pokazał, że w przypadku, gdy skalibruje się urządzenie nieskorygowanymi kalibratorami, których długość kalibratora Open i Short różni się na tyle, że stanowi jakąś istotną długość fali, to wykres Smitha wychodzi poza siatkę po podłączeniu krótkiej linii i podłączeniu za tą krótką linią tych Open lub Short. Mam taki pomysł, aby dokupić wysokiej jakości adapter SMA-F, SMA-M (Portsaver, np J01154A0061), który posłuży mi za wydłużenie linii, o długość, która jest porównywalna (no większa powiedzmy 50 razy ale nie 1000 razy) niż długość błędu pomiędzy Open a Short. Wówczas będę mógł doszlifować długość kalibratora tak, aby wykres nie wychodził poza siatkę. Myślisz, że to realne do zrobienia? W sprawie innych analizatorów. Czasem widzę jakieś ogłoszenia, na których ludzie usiłują sprzedać jakieś stare "analizatory", za ceny znacznie wyższe niż można kupić NanoVNA, i chyba im się udaje to sprzedać. Jest to dla mnie dziwne. Oprócz tego, niektórzy kupują mostki RLC za wór pieniędzy aby mierzyć indukcyjności rzędu setek nanohenrów (bo mniejszych i tak ten mostek nie da rady), a można to zmierzyć wszystko samym NanoVNA i to o rząd wielkości mniejsze wartości. Przy masowym użyciu urządzenie dedykowane jest wygodniejsze, ale przy użyciu amatorskim, od czasu do czasu to chyba szkoda kasy. Może wystarczy  Pozdrawiam djbpm |
PRZEJDŹ NA FORUM